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产品展示


直线度检查仪

Straight Inspect 由高精度大理石导轨或陶瓷导轨和真空气浮测量系统组成,广泛应用于各种高精密零部件的直线度测量。

垂直度检查仪

Square Inspect 系列垂直度检查仪用于校准直角尺的一种新型高精度垂直度测量系统,由高精度大理石角尺和气浮测量系统组成,广泛应用于各计量单位直角尺的计量和工厂产品垂直度检测,合理的结构设计和新型气浮轴承保证了稳定性和高精度,专业的测量软件可满足用户需求,检测完成自动生成证书。

光栅式指示表检定仪

电动立式指示表检定仪,采用阿贝原理,通过精密导轨和丝杆、手轮、高精度光栅系统、控制电机和数显电路设计而成,精密导轨保证了运动的精准性和稳定性,电子手轮和触摸屏控制系统极大的节约了测量过程中的工作量,对于行程在 50 mm/2inch 的待测仪器均可直接测量。体积小、重量轻,便于携带,也极大的方便用户进行现场检验。

高精度球径测量仪

高精度球径测量仪,采用绝对测量和比对测量相结合方式,可对钢球、陶瓷球进行检测,也适用于计量检定机构对球、球型标准塞规的计量校准。仪器采用德国 HEIDENHAIN 超高精度测量传感器,在比较测量时,它能够达到 0.03 微米重复性。开放式的设计使球类整个检定过程可以全程观察, 确保测量结果可靠性。仪器由电脑控制,配合专业检定软件可满足用户测量需求。

高精度量块比较仪

GCK 高精度量块比较仪,采用绝对测量和比对测量相结合方式,可对量块进行检测。仪器采用德国 HEIDENHAIN 大范围测量传感器,全程范围内任意 25mm 范围内可采用绝对测量,150mm 内全程采用对测量时只需要 6 个参考量块,就能覆盖所用被测尺寸量块,有效的节约了检测时间,在比较测量时,它能够达到 0.03 微米重复性。由于简单到可以一只手在测量台上操作基准量块和测量量块, 使得测量工作非常简单, 并且由于开放式的设计使量块整个检定过程可以全程观察, 确保测量结果可靠性,专业检定软件可满足用户测量需求, 包括量块检测、 校准机构和生产商等, 能自动判定量块等级和生报告。

现场大型测长机

XG系列测长机主要用于检定和校准各种大尺寸(最大可达十二米)精密量具、精密量规以及校准杆等如:块规、环规、塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类及各种校准杆等。还可以检测各种精密内外尺寸如:齿轮、花键、校对棒、非标量规等,通用性强。超长光栅尺可保证全程绝对测量,有效消除了传递误差,选用超高精度大理石导轨,适用于计量室和车间现场。

现场万能测长机

ShopFloorCheck 现场测长机选用高精度金属长光栅尺,进口天然大理石底座,最大程度保持与钢制被测件膨胀系数接近,降低温度影响,保证高精度全程绝对测量。测量任何尺寸量检具前无需使用量块先标定仪器,无传递误差 (量块基准误差,与被测件不等温误差,二次装夹及多次对中误差等 ),大大提高了测量工作效率,保证了测量精度。测力0-12N连续可调,测力传感器原理避免了老式砝码加载因仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。测头同轴度好,测量工件前无需先作测头多次对中调整。

卧式螺纹综合测量机

最大测量范围 600mm !
TSM 万能螺纹扫描测量机采用高精度光栅测量系统,高精密气浮轴承驱动系统、伺服电机控制系统、高性能工业计算机控制系统实现螺纹的综合参数全自动、高精度测量。

螺纹综合测量机

TSM 万能螺纹扫描测量机适用于圆柱螺纹塞规、圆柱螺纹环规、锥螺纹塞规、锥螺纹环规、光面环规、光面塞规等 各种内外尺寸量规的作用中径、单一中径、大径、小径、螺距、牙型半角、牙型轮廓偏差、轮廓角、锥度等参数的测量, 操作简单方便快捷, 应用范围广泛, 具有极高的测量不确定度, 是各计量实验室进行此类参数检测的理想测量仪器。 螺纹万能测量机为自动测量,二分钟即可完成一个轴截面所有被测参数的扫描测量,并显示所有测量结果。

大型测长机

XtremeGranite
大型测长机主要用于检定和校准各种大尺寸 ( 大可达十米 ) 精密量具、 精密量规以及校准杆等。超长光栅尺可保证全程测量, 有效消除了传递误差, 选用超高精度大理石导轨, 适用于计量室和车间现场。

量块比较仪

GCK150高精度量块比较仪,采用测量和比对测量相结合方式,可对量块进行检测。

高精度垂直度测量仪

Square Inspect垂直度测量仪用于校准直角尺的一种新型高精度垂直度测量系统,

球径测量仪

KMP
高精度球径测量仪,采用直接测量和比对测量相结合方式,可对钢球、陶瓷球进行检测,也适用于计量检定机构对球、球型标准塞规的计量校准。

高精度直线度测量仪

STRAIGHT-Inspect直线度测量仪,采用经过精细研磨的超高精密大理石基座,非常易于运输。

表类检查仪

UMP
表类检查仪精密导轨保证了运动的准确性和稳定性,电子手轮和触摸屏控制系统节约了测量过程中的工作量,对于行程在 50 mm/2inch 的待测仪器均可直接测量。
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